Part 1   DF-1500 荧光光谱仪性能与技术指标

v 主要性能特点

1、同时分析测量多种元素（从 Na到U的任意多种元素）；

2、采用上照式设计，彻底避免污染和损坏探测器，无需维护，保障仪器安全性能；

3、对样品进行无损分析，分析准确快捷；

4、全自动机电一体化设计，仪器运行稳定可靠；

5、采用电动控制多连杆系统，单样品自动进样检测，操作方便，采用多层保护完全屏蔽X射线对人体的辐射；

6、采用良好的温度控制系统，仪器对外界的气温变化不敏感；

7、采用SDD探测器(美国、德国选配），分析速度快，精确度高，稳定性好，故障率低；

8、WINDOWS系统下的中英文操作软件，方便国内外用户使用。不同层次的操作员可随时调用相关帮助菜单来指导对仪器的操作。

v 仪器主要构成图

v 主要技术指标：

1． 探测器

Ø SDD硅漂移探测器（电制冷，只需要通电即可）

Ø 典型分辨率：123ev,133ev(50000CPS)

Ø 输入计数率：1000KCPS，远大于Si-Pin与Si-Li(是其10倍左右)

Ø 峰背比：>25000

Ø 窗口厚度：1μm Dura 碳（一般的探测器在25μm,对轻元素有更好的透过率，独特的Dura技术）

Ø  碳窗、铍窗（可以耐酸、碱的腐蚀）

Ø 处理器：数字电路，放大倍数，时间常数可任意设置

Ø 高寿命，借助于其独特的Dura碳技术，探测器在几年的时间内探测器的真空不会变坏，晶体不会损伤，无需担心后期的维护费用

2.X射线管

Ø 高压：6Kv-50Kv连续可调

Ø 电流：0-1000μA连续可调 （0-2500μA可选，大电流对Na-K有更好的激发效果）

Ø 功率：50W

Ø 稳定性：8小时0.2%

Ø 高寿命，正确操作的情况下寿命可以达到50000小时

2． 高压发生器

Ø 输入电压：DC24V

Ø 输入电流：4A

Ø 输出电压：40Kv，1mA(2.5mA可选，适配2500mA光管)

Ø 最大功率：50W

Ø 稳定性：8小时0.05%

3． 精密结构设计

Ø 垂直倒角设计，精密的控制保证优异的重复性，上照式设计可以完全避免灰尘的污染，使得仪器可以做到真正的免维护

4． 冷却散热系统

Ø 良好的多级温控自反馈电路，室温在5-25℃，仪器结果不会有影响。

5． 自动进样系统

Ø 单样品自动进样

6．  光谱分析系统控制和数据处理系统

Ø 16位模/数转换器

Ø 19吋显示器

Ø 500G以上硬盘驱动

Ø 多功能标准键盘

Ø 打印机

7．  分析软件

Ø 元素测量范围：Na-U

Ø 可以测量镀层厚度

Ø 标准曲线法，理论系数法，基本参数法，多元比例法 使您轻松应对各种样品的分析

Ø 开放式软件设计，您可以自己开发新的工作曲线

Ø 内置式参数设计，您在自己制作工作曲线时，各种干扰自动扣除

8． 尺寸规格

Ø 长544mm*宽572mm(含推手）*高1152mm   

Ø 重量约110kg

9． 电源要求

Ø 220V±10% 50Hz

10． 工作环境

Ø 温度范围：5—30℃

Ø 相对湿度：20%-80%

Ø 光谱仪应避免放置在电磁干扰、化学腐蚀类气体等环境